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電路板故障檢測儀 型號:ICT-4040UXP-II

電路板故障檢測儀 型號:ICT-4040UXP-II

簡要描述:
電路板故障檢測儀 型號:ICT-4040UXP-II

技術規格:
并口
Windows界面可在WIN98,WIN2000,WIN XP 等系統下工作
雙CPU工作,速度更快,效率更高。
功能測試40×2通道
VI曲線測試40×2通道
雙測試夾VI曲線測試
網絡提取 程控加電
EPROM/RAM在線讀取

產品時間:2021-11-24

訪問量:1134

廠商性質:生產廠家

生產地址:

電路板故障檢測儀 型號:ICT-4040UXP-II 

產品特點:
◆好的測試技術,好的驅動能力,故障原因的電路板皆可修好
◆友好簡單的中文操作界面,不經訓練,均可成為維修
◆無需電路原理圖,不必知道器件型號,對電路板皆可快速維修
◆40/40×2路數字電路測試功能,備有TTL/CMOS/RAM及中規模集成電路數據庫;
◆40/40×2(ASA)V/I,曲線分析測試功能
◆電路板測試存儲功能,被測板可與之比較
◆與進口同類儀器比較,優,操作方便
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片,可為大中規模集成電路提供分析測試。
◆本功能亦可通過學習記錄,比較分析來測試。

電路板故障檢測儀 型號:ICT-4040UXP-II 

技術規格:
并口
Windows界面可在WIN98,WIN2000,WIN XP 等系統下工作
雙CPU工作,速度更快,效率更高。
功能測試40×2通道
VI曲線測試40×2通道
雙測試夾VI曲線測試
網絡提取 程控加電
EPROM/RAM在線讀取
模擬器件 VI曲線測試
總線隔離信號
中文維修筆記
◆[ICT]系列檢測儀檢測更加準確

■ 功能測試軟件設上拉電阻——方便集電極開路門的測試
■ 功能測試外供電源穩定——各種大、中、小型被測電路板皆可測試
■ 功能測試具有三態識別能力——可測三態器件和IC負載能力下降故障
■ V/I測試正負掃描電壓——同時檢查正/反向V/I曲線
■ V/I測試六個掃描頻率——保證V/I曲線測試穩定
■ V/I測試三種測試電壓幅度——確保各類器件的V/I測試

◆集成電路在線功能測試

本功能采用后驅動隔離技術,可在線判定IC邏輯功能是否正確,可測74系列、
4000/45000邏輯IC、75系列接口IC及各種存儲器等千余種集成電路。 1、快速測試:直接
顯示測試結果,迅速確定可疑IC 2、分析測試:顯示全部測試過程,測試激勵。預期和實
際響應,幫助分析故障原因 3、器件識別:查找無標記型號IC或同功能不同型號的IC。

◆集成電路在線狀態測試

通過好壞板上相應IC的狀態進行比較,找出有故障的IC。1、狀態學習:在線學習無故
障IC的引腳關系,互連狀態和測試的激勵與響應,并存入數據庫中 2、狀態比較:同故障
板上相應IC在線進行狀態比較,根據兩者差異判定IC好壞 3、狀態顯示:顯示存入電腦庫
中的各IC的狀態資料。

◆集成電路離線功能測試

離線測試IC功能好壞,自動識別未知型號的芯片

◆V/I曲線測試

通過好壞板上相應節點的動態阻抗圈的異同判定故障節點及故障IC 1、曲線學習:在線
學習*板上各節點的動態阻抗曲線(V/I曲線),并存入數據庫中 2、曲線比較:同故
障板上相應節點的動態阻抗曲進行比較,根據差異大小及維修經驗判定與此節點相關的IC
是否損壞 3、曲線顯示:顯示已存入電腦庫中電路板上各個節點的動態阻抗圖資料大規模
集成電路分析測試
網絡提取測試

使用戶方便的測試出元器件之間的連接關系,;輔助判斷芯片的好壞。實現網絡提取采
用了四種模式:
1、探棒對探捧(“棒"—“棒"模式)
2、探捧對測試夾(“棒"—“夾"模式)
3、測試夾對探捧(“夾"—“棒"模式)
4、測試夾對測試夾(“夾"—“夾"模式)

◆開發編譯

TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件。該說明
文件可以通過任何一個文本編輯器建立,并按TVED要求轉換后即可
與相應子測試關聯起來,隨時用熱鍵查看相應說明文件。

1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法
a)在TVED圖形界面上直接建立
b)讀入DCL語言的編譯結果

2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能,參考取回的響應,不斷對測試圖形加
以調整、修改。

3、4種測試方式:
a)完整執行一個測試
b)執行一個測試的一部分
c)循環執行
d)單步運行

備注信息:
比舊款的4040/8080增加了以下功能:

◆網絡提取測試

使用戶方便的測試出元器件之間的連接關系,;輔助判斷芯片的好壞。實現網絡提取采
用了四種模式:
1、探棒對探捧(“棒"—“棒"模式)
2、探捧對測試夾(“棒"—“夾"模式)
3、測試夾對探捧(“夾"—“棒"模式)
4、測試夾對測試夾(“夾"—“夾"模式)

◆開發編譯

TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件。該說明
文件可以通過任何一個文本編輯器建立,并按TVED要求轉換后即可
與相應子測試關聯起來,隨時用熱鍵查看相應說明文件。

1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法
a)在TVED圖形界面上直接建立
b)讀入DCL語言的編譯結果

2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能,參考取回的響應,不斷對測試圖形加
以調整、修改。

3、4種測試方式:
a)完整執行一個測試
b)執行一個測試的一部分
c)循環執行
d)單步運行

◆操作系統的兼容性增強

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