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KDT-9/10兩探針電阻率測(cè)試儀KDY-2探針頭

簡(jiǎn)要描述：

KDT-9/10兩探針電阻率測(cè)試儀KDY-2探針頭
以上兩種規(guī)格探針頭用于測(cè)量截面面積均勻，截面形狀為方形、矩形或圓形，樣品的長(zhǎng)度與截面Z大尺寸之比不應(yīng)小于3：1，循環(huán)實(shí)驗(yàn)測(cè)試樣品的Z大直徑為3.75cm，電阻率在0.0009-3000之間的單晶棒電阻率。

產(chǎn)品時(shí)間：2018-02-28

訪問(wèn)量：1212

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址：

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產(chǎn)品介紹：

KDT-9/10兩探針電阻率測(cè)試儀KDY-2探針頭

KDT-9 探針間距1.59mm，壓力4-10N；
KDT-9/10兩探針電阻率測(cè)試儀KDY-2探針頭
以上兩種規(guī)格探針頭用于測(cè)量截面面積均勻，截面形狀為方形、矩形或圓形，樣品的長(zhǎng)度與截面zui大尺寸之比不應(yīng)小于3：1，循環(huán)實(shí)驗(yàn)測(cè)試樣品的zui大直徑為3.75cm，電阻率在0.0009-3000之間的單晶棒電阻率。

KDT-10 探針間距10mm，壓力6-10N；

此規(guī)格探針頭用于測(cè)量鍺錠的電阻率。

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