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半導體粉末電阻率測試儀  TP28-FZ-2006A

半導體粉末電阻率測試儀 TP28-FZ-2006A

簡要描述:
半導體粉末電阻率測試儀 TP28-FZ-2006A

1.測量范圍:電阻率10-2 -103Ω㎝。
2.小電阻分辨率:0.1mΩ。
3.測量 差:0.3%讀數±2字。
4.數字電壓表:3檔量程(20mV200mV2V)。

產品時間:2023-12-04

訪問量:265

廠商性質:生產廠家

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半導體粉末電阻率測試儀  TP28-FZ-2006A

1.測量范圍:電阻率10-2 -103Ω㎝。
2.小電阻分辨率:0.1mΩ。
3.測量 差:0.3%讀數±2字。
4.數字電壓表:3檔量程(20mV200mV2V)。
5.直流恒流源:5檔量程(10μA100μA1mA10mA100mA)。
6.顯示:3?位數字顯示0--1999,自動顯示小數點、單位、極性和過載。

半導體粉末電阻率測試儀  TP28-FZ-2006A

7. 粉末測量:
①.試樣粒度:標準篩網40目以上直至納米材料。
②.試樣容器:內腔Φ16.30±0.1㎜、Φ6±0.1㎜(可選件)。
③.試樣高度:6--20㎜±0.1㎜;測量 差±0.1㎜。
④.取樣壓力:8MPA±0.5MPA(80㎏/㎝2±0.5㎏/㎝2)。壓力量程0--200㎏可調。
8.電源:交流220V±10%,50HZ或60HZ,功率﹤50W。
9.電氣箱外形尺寸:440×320×120㎜。



1.測量范圍:電阻率10-2 -103Ω㎝。
2.小電阻分辨率:0.1mΩ。
3.測量 差:0.3%讀數±2字。
4.數字電壓表:3檔量程(20mV200mV2V)。
5.直流恒流源:5檔量程(10μA100μA1mA10mA100mA)。
6.顯示:3?位數字顯示0--1999,自動顯示小數點、單位、極性和過載。

半導體粉末電阻率測試儀  TP28-FZ-2006A

7. 粉末測量:
①.試樣粒度:標準篩網40目以上直至納米材料。
②.試樣容器:內腔Φ16.30±0.1㎜、Φ6±0.1㎜(可選件)。
③.試樣高度:6--20㎜±0.1㎜;測量 差±0.1㎜。
④.取樣壓力:8MPA±0.5MPA(80㎏/㎝2±0.5㎏/㎝2)。壓力量程0--200㎏可調。
8.電源:交流220V±10%,50HZ或60HZ,功率﹤50W。
9.電氣箱外形尺寸:440×320×120㎜。



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